АО «ПКК Миландр» разработана Проходная Камера
для проведения статического и функционального контроля микросхем при пониженной, повышенной и нормальной температуре окружающей среды.Предварительные испытания подтвердили ряд существенных преимуществ разрабатываемого изделия:
- Отклонение температуры от заданного значения в объеме рабочей камеры по всему температурному диапазону составляет 1,5 С;
- Малый интервал времени достижения предельных температур;
- Низкий расход азота;
- Большой срок эксплуатации без дополнительного обслуживания;
- Стабильность при транспортировке микросхемы на всех этапах тестирования обеспечивается конструктивной особенностью;
- Возможность изготовления изделия под конкретные требования Заказчика.
Технические характеристики и внешний вид опытного образца во вложении.
Будем рады обсудить и ответить на вопросы.
Вложение:
kartinka_prohodnaya_kamera.jpg [ 75 КБ | Просмотров: 5903 ]